В пресс-службе Томского госуниверситета систем управления и радиоэлектроники (ТУСУР) сообщили, что ученые вуза разработали устройство для испытаний микросхем на устойчивость к электромагнитным помехам. Решение предназначено для проверки монолитных и гибридных интегральных схем в условиях, приближенных к реальной эксплуатации.
В вузе сообщили, что проект также включает программное обеспечение для испытаний СВЧ-изделий в безэховой камере. Разработка стала частью программы по созданию отечественных систем автоматизированного проектирования антенных систем и СВЧ-устройств.
Устройство позволяет выявлять уязвимости в конструкции микроэлектроники и проверять электромагнитную совместимость компонентов между собой. Технологию планируют применять при создании электроники для авиации, космической отрасли, промышленности и оборонной техники.
В ТУСУРе также рассчитывают создать два отдельных САПР-комплекса: для СВЧ-интегральных схем и для антенных систем.